Nowa metoda oczyszczania** - szczególnie skuteczna do usuwania zanieczyszczeń węgla, tlenu i siarki.
Specyfikacja
Wyniki analizy spektroskopii SSMS (Spark Source Mass Spectrometry) [ppm]:
- Li < 0.02
- Na ≈ 0.1 ± 0.05
- P < 0.03
- K ≈ 0.1 ± 0.05
- Fe ≈ 0.1 ± 0.05
- B < 0.02
- Al ≈ 0.25 ± 0.05
- S ≈ 0.07 ± 0.03
- Ca ≈ 0.1 ± 0.05
- Cu < 0.05
- F < 0.03
- Si ≈ 0.2 ± 0.1
- Cl < 0.05
- Mn < 0.05
- Zn ≈ 0.2 ± 0.8
Zastosowania
Dla MBE i innych technologii półprzewodnikowych.
Kawałki ≈ płytki (10 x 20, 10 x 10, 10 x 5, …) mm2 o grubości 1-2 mm wycięte z większego kawałka
(zobacz zdjęcie)
Sztabki Φ 10 - 10÷25 mm długości (zdjęcie)
Φ 15, Φ 20 mm i Φ 25mm, 20÷30 mm długości
(zobacz zdjęcie)
Targety Φ = 25,4mm (1 cal)
3÷10 mm grubości (zdjęcie)
Φ = 50,8mm (2 cale), 1,0÷1,6 mm grubości
(zobacz zdjęcie)
Wszystkie produkty pakowane próżniowo w szklanej ampułce aby zapobiec utlenieniu.
![]() Ultraczysty Magnez 12Mg24.312 ( m6N; t5N8) |
Osoby do kontaktu: prof. Andrzej Mycielski, e-mail: mycie@ifpan.edu.pl, tel: (+48) 22 116 31 65
prof. Leszek Sirko, e-mail: director@ifpan.edu.pl, tel: + 48 22 116 2111
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk, Aleja Lotników 32/46, 02-668 Warszawa
tel.: (+48) 22 843 70 01 | fax: (+48) 22 843 09 26 | www.ifpan.edu.pl
NIP: 525-000-92-75, Regon: 000326061
prof. Leszek Sirko, e-mail: director@ifpan.edu.pl, tel: + 48 22 116 2111
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk, Aleja Lotników 32/46, 02-668 Warszawa
tel.: (+48) 22 843 70 01 | fax: (+48) 22 843 09 26 | www.ifpan.edu.pl
NIP: 525-000-92-75, Regon: 000326061