Charakteryzacja - Spektrometry NMR do badan materiałów magnetycznych

Opis

Zjawisko Jądrowego Rezonansu Magnetycznego (NMR) polega na rezonansowej absorpcji fononów o częstotliwości określonej różnicą energii pomiędzy dwoma sąsiednimi poziomami energetycznymi jądra w polu magnetycznym. W przypadku materiałów uporządkowanych magnetycznie , rezonans zachodzi w lokalnym polu magnetycznym, i może być wykorzystany do próbkowania lokalnych własności magnetycznych. Widmo NMR obrazuje rozkład lokalnych pól magnetycznych w poszczególnych położeniach w krysztale. 

Parametry

  • 3 szerokopasmowe spektrometry echa spinowego
  • Zakres pracy: 30-320 MHz, 300-1000 MHz i 20-600 MHz
  • Izotopy możliwe do obserwacji: 59Co, 57Fe, 55Mn, 121Sb, 123Sb , 95Mo, 97Mo, 75As, 119Sn, 143Nd, 145Nd 149Sm, 153Eu 155Gd, 187Re
  • Specjalistyczne oprogramowanie służące do zbierania i analizy danych eksperymentalnych.

 

Zastosowania

Ze względu na silną zależność między lokalnym polem magnetycznym i lokalnym otoczeniem krystalograficznym NMR dostarcza informacji na temat krótkozasięgowego porządku w krysztale. Jest to więc metoda komplementarna do innych technik badań strukturalnych, takich jak mikroskopia elektronowa, Rtg czy EXAFS. Dodatkowo NMR dostarcza informacji na temat rozkładu gęstości spinów, uzupełniając informacje dostarczone przez magnetometrie makroskopową. Eksperyment NMR dostarcza poza tym informacji na temat lokalnej anizotropii magnetokrystalicznej czy koercji w poszczególnych fragmentach próbki

Spektrometry NMR na zakres 20-320 MHz oraz 300-1000 MHz.

 

Kszatłt i rozmiar (d=4.5 nm) nanocząstek Co otrzymanych w wyniku obróbki termicznej  stopu CoAg, określone na podstawie analizy widma NMR dla izotopu 59Co .

Przykładowe informacje uzyskane z analizy widm 55Mn NMR w cienkich warstwach manganitu La2/3Sr1/3MnO3.  Gęstość zlokalizowanych dziur (Mn4+) rozciąga się w głąb warstwy poza obszar międzywierzchni, a anizotropia magnetyczna wykazuje charakterystyczny profil w funkcji odległości od międzywierzchni, pozwalając  rozróżnić wkład od powierzchni i wnętrza warstwy.


Osoby do kontaktu: prof. Ewa Jedryka, e-mail: jedry@ifpan.edu.pl, tel: (+48) 22 116 35 02
prof. Leszek Sirko, e-mail: director@ifpan.edu.pl, tel: + 48 22 116 2111
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk, Aleja Lotników 32/46, 02-668 Warszawa
tel.: (+48) 22 843 70 01 | fax: (+48) 22 843 09 26 | www.ifpan.edu.pl
NIP: 525-000-92-75, Regon: 000326061