Strona główna Instytut Fizyki PAN Projekt EAgLE Kontakt
 

Produkty

Materiały Usługi technologiczne Charakteryzacja

Dziedziny

Biologia i MedycynaElektronikaFotowoltaikaOptoelektronikaTechnologia
Charakteryzacja
Dozymetr termoluminescencyjny promieniowania
jonizującego
Laboratorium Technik Wiązek JonowychMikroskopia sił atomowych (AFM)Pomiary składu i dystrybucji pierwiastków EDXRentgenowska spektroskopia fotoelektronowa, spektroskopia fotoelektronowa w zakresie ultrafioletu (UPS)
oraz dyfrakcja niskoenergetycznych elektronów (LEED)
Rentgenowskie badania dyfrakcyjne (XRD)Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM)Spektrometry NMR do badan materiałów magnetycznychSpektroskopia głębokich poziomów defektowych (DLTS)Spektroskopia UV-VisSpektroskopia w podczerwieni (FTIR)Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa (TEM)
© Instytut Fizyki PAN 2014