Nowa metoda oczyszczania** - szczególnie skuteczna do usuwania zanieczyszczeń węgla, tlenu i siarki.
Specyfikacja
Wyniki analizy spektroskopii absorpcyjnej i spektroskopii SSMS (Spark Source Mass Spectrometry) [ppm]:
- Li < 0.05
- Na < 0.03
- P < 0.1
- Ca < 0.08
- Cu < 0.2
- B < 0.01
- Mg < 0.06
- S < 0.07
- Cr < 0.08
- Zn < 0.2
- C < 0.1
- Al ≈ 0.5
- Cl < 0.1
- Fe < 0.5
- F < 0.1
- Si ≈ 0.8
- K < 0.08
- Ni < 0.1
Zastosowania
Dla MBE i innych technologii półprzewodnikowych.
10mm i mniejsze kawałki (zobacz fotografię) zwykle w 25g porcjach pakowane próżniowo.
Sztabki o średnicy Φ= 6, Φ = 10, Φ = 12.5, Φ = 15, Φ = 17 i Φ = 20 mm oraz 20.30 ±5 mm długości
(zobacz fotografię).
Wszystkie produkty pakowane próżniowo w szklanej ampułce aby zapobiec utlenieniu.
![]() Ultraczysty Mangan 25Mn54,936 (m5N8; t5N7) dla MBE i innych technologii półprzewodnikowych. |
Osoby do kontaktu: prof. Andrzej Mycielski, e-mail: mycie@ifpan.edu.pl, tel: (+48) 22 116 31 65
prof. Leszek Sirko, e-mail: director@ifpan.edu.pl, tel: + 48 22 116 2111
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk, Aleja Lotników 32/46, 02-668 Warszawa
tel.: (+48) 22 843 70 01 | fax: (+48) 22 843 09 26 | www.ifpan.edu.pl
NIP: 525-000-92-75, Regon: 000326061
prof. Leszek Sirko, e-mail: director@ifpan.edu.pl, tel: + 48 22 116 2111
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk, Aleja Lotników 32/46, 02-668 Warszawa
tel.: (+48) 22 843 70 01 | fax: (+48) 22 843 09 26 | www.ifpan.edu.pl
NIP: 525-000-92-75, Regon: 000326061